Ponente: Dr. Rubén J. Lazos-Martínez
Procedencia: Centro Nacional de Metrología

Resumen

Ante la aparición en el mercado de productos conteniendo nanomateriales , y considerando sus ciclo de vida, desde su creación hasta su desecho, este trabajo resalta la necesidad de medir de modo que los resultados puedan ser reproducidos por cualquiera de los interesados. En algunas etapas la equivalencia de las mediciones será importante para el intercambio comercial, y a lo largo de todo el ciclo de vida serán relevantes para la protección de la salud humana y del ambiente.
Se recuerda la evolución de las unidades del Sistema Internacional, particularmente del metro, subrayando el papel de las constantes fundamentales como base de las nuevas definiciones de dichas unidades.
Se plantean las dificultades para referir al metro las mediciones en la nanoescala, el intervalo de 1 nm a 100 nm aproximadamente, y se discute la aplicación de la microscopía de fuerza atómica cuyos desplazamientos son medidos por interferometría óptica, y el uso de la constante de red del silicio como opciones al respecto.

Miércoles 4 de mayo, 13 hr
Auditorio del IF